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智能軸承故障測試儀/軸承故障測試儀/軸承故障檢測儀 型號:TDC-BT2000
TDC-BT2000智能軸承故障測試儀兼有軸承故障測試儀(沖擊脈沖儀)和振動測量儀的功能。該儀器用來檢測旋轉類機械的運動狀況,從而探測出機械故障并為有效的預防性檢修提供數據。可廣泛應用于航空航天,冶金、化工、輕工、船舶制造等領域。 | |
▲ | 定量檢測滾動軸承損傷程度和潤滑程度 |
▲ | 機器總體狀況(結構松動,不對中和不平衡) |
TDC-BT2000只需少量的數據輸入,就可提供軸承運行狀況的描述??芍苯佑昧己茫ňG),警告(黃),壞(紅)顯示軸承的運轉狀況??捎梅逯底x數和耳機模式對軸承狀況作進一步的評估。
內置ISO 2372振動標準,可直接顯示機器振動的情況(即:良好,警告,壞)。
技術參數:
測 量 范 圍
沖擊脈沖值(SPM)
-9--99dBsv
振 動 值(VIB)
0.2--99.9mm/s RMS
分 辨 率
沖擊脈沖值(SPM)
1dBsv
振 動 值(VIB)
0.1mm/s RMS
精 度
沖擊脈沖值(SPM)
±2dBsv
振 動 值(VIB)
±(0.1mm/s±2%讀數)
溫 度 范 圍
0°C--50°C
電 源
6 x 1.5V LR6堿性電池或可充電電池
產品名稱:數字式四探針測試儀 數字式四探針檢測儀 產品型號:SZT-2000 |
數字式四探針測試儀 數字式四探針檢測儀 型號:SZT-2000
SZT-2000A型數字式四探針測試儀是根據四探針測試原理研究成功的多用途的綜合測量裝置,它可以測量棒狀、塊狀
半導體材料的電阻率和半導體擴散層的薄層電阻進行測量,可以從10-6--105Ω—cm全量程范圍檢測硅的片狀、棒狀材料的電阻、薄層電阻,是硅材料質量監(jiān)測的必需儀器。
儀器為臺式結構,分為電氣箱、測試架兩大部分,用戶可以根據測試需要安放在一般工作臺或者工作臺上,測試架由探頭及壓力傳動機構、樣品架組成,耐磨和使用壽命長的特點。探頭內設有彈簧壓力裝置,壓力從0—2Kg連續(xù)可調,測試架設有手動和電動兩種裝置供用戶選購。
儀器電氣箱主要由高靈敏的直流數字電壓表和高穩(wěn)定的恒流源組成,測量結果由數字直接顯示,儀器有自校量程,可以方便地對儀器的電氣性能進行校驗。
儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、測量范圍廣、結構緊湊、使用方便等特點,儀器適用于半導體材料廠、器件廠、科學研究部門、高等院校,對半導體材料的電阻性能測試及工藝檢測。
儀器主要技術指標:
1. 范圍:電阻率10-4—103Ω—cm,可擴展至105Ω—cm,分辯率為10-6Ω—cm
方塊電阻10-3—103Ω /□
電阻10-6—105Ω
2. 可測半導體尺寸:直徑Φ15—150mm
3. 測量方式:軸向、斷面均可(手動測試架)
4. 數字電壓表(1)量程0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V
(2)測量誤差 0.2mV檔±(0.3%讀數+8字)
2 mV檔以上±(0.3%讀數+2字)
(3)輸入阻抗0.2mV、2mV擋105Ω
20mV檔以上>108Ω
(4)顯示3 1/2位數字顯示,0—1999
具有性和過載自動顯示,小數點、單位自動顯示
5. 恒流源:(1)電流輸出:直流電流0—100mA連續(xù)可調,由交流電源供給
(2)量程:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 五檔
(3)電流誤差:±(0.3%讀數+2字)
6.四探針測試探頭 (1)探頭間距:1mm (2)探針機械游率:±0.3%
(3) 探針:Φ0.5mm (4)壓力:可調
7. 測試架:
(1)手動測試架:探頭上升及下降由手動操作,可以用作軸向和斷面的單晶棒和硅片測試。
(2)電動測試架:探頭的上升和下降由電動操作,設有自動控制器控制,探頭上升時間1S—99S可調,探頭下降時間1S—99S可調,壓力恒定可調(由砝碼來設定)同時設有腳踏控制裝置由腳踏開關控制探頭上下運動。
8.電流:220V±10% 50HZ或60HZ:功率消耗<35W
9. 外形尺寸:電氣箱130×110×400mm