手持式溫度計 型號 ：TR-GM03

產(chǎn)品特點：
手持式溫度計·手動開關，自動斷電 
·℃/℉轉換 
·溫度范圍：-40℃-200℃ 
·溫度測量精度：±1℃(0-100℃)/±1.8℉(-32-212℉)其他±2℃／±3.6℉ 
·一節(jié)SR44電池，可使用12個月 
·LCD液晶顯示清楚易讀。 
·不銹鋼感溫頭，易于清潔，配有特制固定鋼夾，便于高溫測量
·外形尺寸：155×35×26(mm)   
·重量約18克
·廣泛應用于廚房、野外燒烤、牛奶、飲料、水、空氣等的測量，以及工業(yè)和實驗室的普通測量

產(chǎn)品名稱：防爆數(shù)碼相機/防爆相機 產(chǎn)品型號：Toughpix2302xp 英國

防爆數(shù)碼相機/防爆相機 型號：Toughpix2302xp

簡單描述：  
Toughpix2302xp防爆數(shù)碼相機，通過ATEX防爆認證，可以用在1類煤礦區(qū)域  
自帶強光閃光燈和紅眼減少等功能，這款機器在惡劣，黑暗的環(huán)境（黑暗的煤礦井下）可清楚的拍到照片。 
Toughpix2302xp防爆數(shù)碼相機可拍照，錄像。 


技術參數(shù)： 

像素 
500萬 
圖片格式JPEG 
錄像分辨率640X480at30fps 
錄像格式AVI 
閃光模式開，關，自動 
定時器2s,5s,10s 
液晶屏尺寸61mm/2.4* 
倍數(shù)6倍 
閃光模式開，關，自動 
情景模式自動，運動，夜間，背景，風景，背光 
白平衡自動，白天，多云，燈光 


防爆證號Sira08ATEX1293X 
防爆類型0518I M2G/ EX D I Mb 
環(huán)境溫度-20攝氏度+50攝氏度 
圖片傳輸高速USB（僅在安全區(qū)域） 
內存4G 
像素500萬 
機身材料防靜電，電鍍鋁 
鏡頭和液晶屏材料防爆玻璃 
重量1.5Kg 
IP等級IP54 
電池類型防爆，可拆卸，可充電電池 
電池鎳氫電池 
電池容量1100mAH

產(chǎn)品名稱：數(shù)字式四探針測試儀 產(chǎn)品型號： ST2253

數(shù)字式四探針測試儀 型號： ST2253 
概述   
      ST2253型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準。 

    儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭、測試臺以及PC軟件等部分組成。 
    主機主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)組成，USB通訊接口。儀器主機所有參數(shù)設定、功能轉換全部采用數(shù)字化鍵盤和數(shù)碼開關輸入；具有零位、滿度自校功能；測試功能可自動/手動方式；儀器操作可由配套軟件在PC機上操作完成，也可脫PC機由四探針儀器面板上獨立操作完成。測試結果數(shù)據(jù)由主機數(shù)碼管直接顯示，也可連機由軟件界面同步顯示、分析、保存和打?。?nbsp;
     
    探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。配探頭，也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。 
     
    測試臺選配：一般四探針法測試電阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型測試臺。二探針法測試電阻率測試選SZT-K型測試臺，也可選配SZT-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率，選配SZT-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。 
      詳見《四探針儀器、探頭和測試臺的特點與選型參考》點擊進入 
    儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、測量簡便、結構緊湊、使用方便等特點。 
    儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。 
三、基本技術參數(shù) 
     
3.1  測量范圍 
     電  阻：1×10-4～2×105 Ω   ，分辨率：1×10-5～1×102 Ω 
    電阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm 
    方  阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□ 
3.2  材料尺寸(由選配測試臺和測試方式?jīng)Q定) 
     直    徑：SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，手持方式不限 
    SZT-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm，手持方式不限. 
    長(高)度：測試臺直接測試方式 H≤100mm,    手持方式不限. 
    測量方位: 軸向、徑向均可 
3.3.  4-1/2 位數(shù)字電壓表： 
    (1)量程： 20.00mV～2000mV 
   (2)誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字 
3.4 數(shù)控恒流源 
    (1)量程：0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA，1A 
   (2)誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字 
3.5 四探針探頭（選配其一或加配全部） 
    (1)碳化鎢探針：Φ0.5mm，直線探針間距1.0mm，探針壓力: 0～2kg 可調 
   (2)薄膜方阻探針：Φ0.7mm，直線或方形探針間距2.0mm，探針壓力: 0～0.6kg 可調 
3.6. 電源 
    輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功        耗：<20W 
3.7.外形尺寸： 
    主   機  220mm（長）×245 mm（寬）×100mm（高） 
   凈   重：≤2.5kg